该反射台/探头支架可以为直径达150毫米的基片或者光学层进行远距离和近距离反射测量。
它可容纳光纤探头和直径达6.35mm的其它采样光学器件,上下滑动不锈钢柱可调节高度至样品上约63.5mm的位置。它可以与显微镜或者电镜的接口相连接,使光透射到光谱仪上,进行全光谱分析。
产品详情
规格
工程规格
stage
芯片直径:
152.4mm
采样区直径:
101.6mm
重量:
620 g
高度:
横杆可调至63.5mm高度