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planum-3000 平面光学元件光谱分析仪

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产品介绍

planum-3000平面光学元件光谱分析仪用于快速测量各类平面光学元件的反射、透射光谱，可进行多角度绝对反射率、相对反射率、透射率测量，偏振光测量，膜性测量，颜色测量等。

 

仪器特点：

自定义多角度透反射测量

 

测量对象：
 

  
       棱镜                            平行平板、平晶
 
  
     滤光片                             红外截止片
 

技术参数：

型号
planum-3000
探测器
hamamatsu背照式ccd阵列
检测范围
380-1100nm
波长分辨率
1nm
信噪比（全信号）
1000：1
相对检测误差
＜0.2%（410-900nm）
操作方式
自动
角度分辨率
＜0.0002°
重复定位精度
＜0.005°
旋转最大速度
25°/s
透射测量角度
0-80°（小样品0-50°）
反射测量角度
5-80°
单次测量时间量
＜1s
s/p光测量
支持
样品尺寸
＞φ3mm
操作系统/接口
windows7~windows10/ usb2.0
电源/功率
220v-50hz /100w
其它
可自定义打印报表格式，开放式光学材料数据库

 

")); 光纤光谱仪
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