tms 透过率测量仪

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产品介绍

tms透过率测量仪能快速准确地测量各类平面、球面、非球面等光学元件的透过率，可用于实时显示单、多点波长透过率数据及指定波段平均透过率数据。适用于手机盖板ir孔、棱镜、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片等平面、球面非球面光学元件及组合镜头等的检测。

仪器特点：

测试对象：

技术参数：

型号	tms （i型）	tms （ⅱ型）	tms （iii型）
探测器	sony线形ccd阵列	hamamatsu背照式2d-ccd	hamamatsu背照式2d-ccd
检测范围	380-1000nm（tms-uv:200-850nm）	380-1100nm（tms-uv:200-1100nm）	360-1100nm（tms-uv:225-1000nm）
信噪比（全信号）	250 : 1	450 : 1	1000 : 1
相对检测误差	<0.6%（410-900nm）	<0.4%（410-1000nm）	<0.2%（410-1000nm）
检出限	0.1%	0.05%	0.01%
ccd制冷	未制冷	未制冷	-20℃
单次测量时间	<1s
样品尺寸	≥φ1.5mm (显微:≥0.8mm)
光斑	可调，≥ φ0.6mm(显微≥0.3mm)
操作系统/接口	windows7~windows10/ usb2.0
电源/功率	220v-50hz /6w

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